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仪器名称

扫描电子显微镜

规格型号

Tescan VEGA3 XMU

生产厂家

泰思肯贸易(上海)有限公司

购置日期

2015-09-22

主要技术参数

仪器参数:分辨率: 高真空(二次电子3.0nm at 30kv8.0nm at 3kv) (背散射电子3.5 nm at 30 keV) 低真空(低真空二次电子3.5 nm at 30 kV);放大倍数: 2.5 ~1000000x;真空系统: 高真空<9*10 -3Pa;加速电压:0.2kV ~30Kv;电子束电流:1pA~2uA

主要功能及特色

具二次电子、背散射电子探头、X射线电子能谱探测器,可以同时进行显微组织形貌观察和微区成分分析。




仪器名称

热膨胀仪

规格型号

Linseis/L75VS1600

生产厂家

德国林赛斯

购置日期

2015-09-22

主要技术参数

仪器参数:分辨率:0.03nm;温度范围:RT-1550℃;加热速率:1-20K/min;施力大小:200nm-500nm;

主要功能及特色

可测定材料的热膨胀系数,可测试线性热膨胀,软化点,热分解温度,玻璃化转变温度等,广泛用于陶瓷、玻璃、合金等材料的测试与分析。




仪器名称

激光散射粒度分布分析仪

规格型号

LA-960

生产厂家

日本HORIBA公司

购置日期

2016-04-25

主要技术参数

仪器参数:量程: 1 μm-3000 μm (湿法最高3000 μm) ;光源:650 nm激光二极管 405 nm LED ;样品量:10mg - 5g;分散液:约180 - 250mL;超声系统:30w20kHz 7档连续可调;循环/搅拌:15档连续可调

主要功能及特色

用于测固体样品的粒径分布




仪器名称

电感耦合等离子体发射光谱仪

规格型号

Optima 8000

生产厂家

珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司

购置日期

2016-04-25

主要技术参数

仪器参数:光谱范围:163nm900nm;动态范围:106;精密度:1ppm混合多元素溶液,CV<0.5%;稳定性:1小时RSD<1%4小时RSD<2%;分辨率:在200nm处,光谱分辨率优于0.007nm;频率:40.68MHz。功率:750W1500W1W增量连续可调。观测方式:水平和垂直

主要功能及特色

通过等离子体激发离子,并由光谱仪测试离子退激发的特征谱线,获得离子种类与浓度,对液体样品中主量、微量及痕量元素的定量分析。




仪器名称

同步热分析仪

规格型号

NETZSCH STA 449 F3 Jupiter

生产厂家

德国耐驰

购置日期

2017-03-29

主要技术参数

仪器参数:TG-DSC.温度范围:RT-1450℃;加热速率:0.1-50K/min;

主要功能及特色

可同时测定相同控温程序中样品的热效应和质量变化,广泛应用于塑料、橡胶、合成树脂、纤维、涂料、油脂、陶瓷、玻璃、水泥、耐火材料、金属及合金等材料的热稳定性研究。




仪器名称

铁电材料测试仪

规格型号

Radiant Precision LC II

生产厂家

Radiant Technologies

购置日期

2017-03-29

主要技术参数

电压范围:0~± 100V;测量频率:0.03Hz~5kHz;电荷测量解析度范围: 10fC~276uC;材料测量面积解析度范围1µm2 ~2.76cm2;在使用外部高压电源时测量电荷的大解析度为27.6mC。脉冲测试:50us~1s;0V上升到5V的快时间: 40us;大漏电流测试:12.5mA。疲劳测试;大疲劳测量频率: 20kHz;小脉冲宽度:50us

主要功能及特色

广泛应用于各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、块体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。可实现电滞回线、疲劳性能、I-V特性和储能性能测试,获得饱和极化强度、剩余极化强度、击穿强度、疲劳特性、可回复储能密度等性能




仪器名称

振动样品磁强计

规格型号

VSM-175

生产厂家

长春市普磁电技术开发有限公司

购置日期

2018-12-10

主要技术参数

测量磁矩范围(磁极间距30mm)1*10-3emu—300emu(灵敏度:5×10-5emu);相对精度(量程30emu):优于±1%;重复性(量程30emu):优于±1%;稳定性(量程30emu):连续4小时工作优于1%;温度范围:室温到500摄氏度以及室温到液氮温区;磁场强度:0~±3.8T之间。

主要功能及特色

适用于各种磁性材料的磁滞回线、起始磁化曲线、退磁曲线及温度特性曲线、IRMDCD曲线的测量,具有测量简单、快速和界面友好等特点。




仪器名称

磁控溅射镀膜仪

规格型号

VTC-600-2HD

生产厂家

深圳科晶

购置日期

2018-12-21

主要技术参数

电源电压:220V   50Hz;总功率:2KW;工作温度:室温-500℃,精度±1℃;靶枪数量:2;靶枪冷却方式:水冷;靶材尺寸:Φ2″;厚度0.1-5mm(因靶材材质不同厚度有所不同);直流溅射功率:500W;9、射频溅射功率:300W/500W;载样台:Φ140mm;载样台转速:1-20rpm内可调;保护气体:ArN2等惰性气体;进气气路:质量流量计控制2路进气,每个流量为100SCCM

主要功能及特色

用于制作各种单层或多层薄膜,如铁电、导电,合金,半导体,陶瓷,介电,光学,氧化物和PTFE薄膜等。设备具有操作简单、镀膜面积大和附着力强、薄膜厚度易于控制等优点。




仪器名称

介电温谱仪

规格型号

DMS500

生产厂家

佰力博

购置日期

2020-08-27

主要技术参数

测量温度:RT~450℃/600℃;测量原理:平行板电容器原理;供电:220V±10%50Hz;升温斜率:0-10°C/min(典型值3°C/min;工作温度:5℃ + 40 ℃;控温精度:±0.5℃;测试样品:φ20mmd5mm的块体;存储温度:–40 ℃ +65 ℃;测量频率:10Hz~1MHz;工作湿度:+40 ℃ 时,相对湿度最高达 95%(无冷凝);测量精度:0.05%;

主要功能及特色

测量介电材料的介电常数、损耗、电容、阻抗等参数,及在不同温度和频率下的变化规律。




仪器名称

霍尔效应测试系统

规格型号

CH-100

生产厂家

北京翠海磁电

购置日期

2020-06-20

主要技术参数

测量温度区间:80K-500K;可测试材料:电阻范围:10m Ohms -6m Ohms;半导体材料:SiGeSiCInAsInGaAsInPAlGaAsHgCdTe和铁氢体材料等;低阻抗材料:石墨塘,金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料等;高阻抗材料:半绝缘的GaA5GaNCdTe等材料的P型与N型测试;电阻率范围10-7~1012 Ohm*cm;载流子浓度范围:103~1023cm-3;迁移率范围:0.1~108cm2/volt*sec霍尔系数范围:10-5~1027cm-3/C;霍尔电压范围:luV-3V

主要功能及特色

用于分析测试块状或薄膜状半导体材料的电阻率和霍尔电压等参数,从而得到关于材料电导率、霍尔系数、载流子浓度和载流子迁移率等信息,广泛用于半导体材料的电学性能的研究。




仪器名称

阻抗分析仪

规格型号

keysight E4991B

生产厂家

美国是德keysight

购置日期

2017-03-29

主要技术参数

3 种频率选件:1 MHz 500 MHz/1 GHz/3 GHz,可升级;±0.65% 基本精度和 120 mΩ 52 kΩ 阻抗范围(10% 测量精度范围);测量参数:|Z||Y|θRXGBLCDQ|Γ|ΓxΓyθΓVacIacVdc1Idc1;内置直流偏置;介电/磁性材料测量:|εr|εr'εr''tanδ(ε)|μr|μr'μr''tanδ(μ);提供温度特征测量和可靠的晶圆上测量

主要功能及特色

用以分析温度和频率对不同组分陶瓷样品电学性质均匀性、稳定性以及绝缘性的影响。




仪器名称

电子万能试验机

规格型号

EUT4304

生产厂家

深圳三思

购置日期

2020-12-07

主要技术参数

试验机测量范围:0.4%~100%FS;试验力分辨率:最大试验力的1/300000,全程不分档,且全程分辨率不变;试验空间:下空间/双空间;横梁最大行程:1100mm;试验宽度:550mm;外形尺寸:1050×780×2250m;电源/功率:三相五线制/5kW;精度等级:0.5

主要功能及特色

测试材料的拉伸、压缩、三点弯曲特性,最大拉力30 KN




仪器名称

紫外可见近红外光谱分析系统

规格型号

PMS-2000

生产厂家

远方

购置日期

2021-01-21

主要技术参数

 波长范围: 200nm800nm; 波长准确度:0.2nm;波长重复性:0.1nm;光谱采样间隔:0.1nm1nm5nm可选;色温测量范围:1000K100000K;系统光度线性:0.3%;光通量测量范围:0.01lm1.9999×10E05lm(需适当的积分球配合);杂散光:10E-08

主要功能及特色

紫外-可见-近红外光谱分析系统PMS-2000是远方的光谱功率测试仪器,可测试相对光谱功率分布,色品坐标,主波长,峰值波长,光谱纯度,色温,显色指数,半宽度,光通量(配积分球),辐射功率,红色比,色容差等参数,满足国际照明委员会CIE对光和颜色测量要求。这种多用途仪器特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体等发光器件的光学特性测量。




仪器名称

磁控溅射及多弧式镀膜机

规格型号

KC-CK500

生产厂家

沈阳科诚

购置日期

2021-01-21

主要技术参数

真空腔室:φ500×H430mm;真空系统:复合分子泵+直联旋片泵,气动真空阀门;真空极限:优于8.0×10-5Pa;抽速:从大气抽至6.0×10-3Pa≤15min;基片台:基片台尺寸:φ150mm; 基片加热与旋转:衬底加热:室温~300℃,自动测温,PID控温;基片旋转:0-50/分钟;溅射靶规格:3英寸,四只;膜厚不均匀性:≤±5%


主要功能及特色

用于制作各种单层或多层薄膜




仪器名称

放电等离子烧结炉

规格型号


生产厂家

思维特电源

购置日期

2021-01-21

主要技术参数

研究型:脉冲峰值电流1000-3000A,压力1-5吨的小型SPS设备,极限真空度10-4Pa,烧结样品尺寸:Φ108mm


主要功能及特色

金属、合金粉末的放电等离子烧结成型;功能陶瓷、金属陶瓷、金属间化合物、复合材料的等离子活化热压烧结制备;纳米晶体材料的研发与制备;梯度功能材料的制备




仪器名称

金相显微镜

规格型号

6XB

生产厂家

上海光学一厂

购置日期

2018-12-21

主要技术参数

转换器:内置五孔转换器;调焦机构:低手位粗微调同轴,粗动每转行程38 mm;微调精度2um,带松紧调节机构;载物台:尺寸160mm×255mm,行程:120mm×75mm; 金属载物台板,中心孔φ12mm; 照明系统:柯拉照明,带可变孔径光栏和中心可调视场光栏,12V50W卤素灯灯室,灯丝中心可调,焦距可调 ;适配镜:直径:43mm,内调焦距:03mm调焦后可锁紧.


主要功能及特色

用来放大微小物体的图像,一般应用于金属,复合材料、有机高分子材料、无机非金属材料等的微观组织等观测。本项目收费包括制样。




仪器名称

X射线粉末衍射仪

规格型号

(SmartLab)

生产厂家

Rigaku

购置日期

2021-01-22

主要技术参数

X 射线发生器功率为 3KW、新型 9KW 转靶;测角仪最小步进为 1/10000 度,精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位);小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS);多用途薄膜测试组件;微区测试组件、CBO-F 微区光学组件;In-Plane 测试组件;入射端 Ka1 光学组件;高速探测D/teX-Ultra(能量分辨率 20%以下)

主要功能及特色

高温实时研究材料的物相成、晶体结构和织构及应力分析、结构分析。




仪器名称

热导分析仪

规格型号

LFA467 HyperFlash)

生产厂家

NETZSCH

购置日期

2021-01-23

主要技术参数

温度范围:-100°C ~ 500°C,单一炉体;非接触式测量,IR 检测器检测样品上表面升温过程;数据采集速率:高达 2MHz(包括半升温信号检测,及 pulse mapping 技术);热扩散系数测量范围:0.01 mm2/s ~2000 mm2/s;导热系数测量范围:< 0.1 W/(mK) ~4000 W/(mK);样品尺寸:
-
直径 6 mm ~25.4 mm(包括方形样品)
-
厚度 0.01 mm ~ 6 mm(样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能)

主要功能及特色

测试 -100°C 500°C 的宽广温度范围内样品的导热系数等热物理性能




仪器名称

原子力显微镜

规格型号

MFP-3D Origin+)

生产厂家

Oxford

购置日期

2021-01-24

主要技术参数

最大可观测直径80nm, 厚度10mm的样品,扫描范围:XY方向不低于90umZ方向不低于15um.

主要功能及特色

AFM测量对样品无特殊要求,不需要对样品进行特殊处理,仅在大气环境下就可测量固体表面、吸附体系等,得到三维表面粗造度等信息。




仪器名称

高温介电温谱测量系统

规格型号

DMS10001PBA)

生产厂家

佰力博

购置日期

2021-01-25

主要技术参数

测量温度:室温~1000℃;控温精度:±1℃;测量频率:20Hz~30MHz(依据阻抗而定)测量精度:0.05%;升温斜率:0~10℃/min(典型值3℃/min;测量环境:常温/高温/真空/气氛;测量夹具:单样品/四样品/块体/薄片夹具;可以实现常温、高温、真空、气氛条件下测量块体/薄片样品的介电性能;;可以测量阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D等物理量; 可以直接测量介电常数和损耗,阻抗谱Cole-Cole图,机电耦合系数Kp

主要功能及特色

用于分析宽频、高温条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、电容C、介电损耗D、品质因数Q等物理量,同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线。广泛用于材料的介电性能、温度弛豫、电弛豫的研究。




仪器名称

X射线粉末衍射仪

规格型号

Rigaku miniflex600

生产厂家

Rigaku

购置日期

2015-09-22

主要技术参数

仪器参数:功率:600W

探测器: 闪烁计数器(使用滤光片)狭缝系统: DSSS = 1.25&deg;RS = 0.3 mm入射、接收索拉狭缝: 5&deg;入射高度限制狭缝 = 10 mm

测角范围2θ = 3~90&deg; 步长:0.02&deg;

主要功能及特色

用于材料的物相组成、晶体结构和织构及应力分析、结构分析。





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