仪器名称

扫描电子显微镜

规格型号

Tescan VEGA3 XMU

生产厂家

泰思肯贸易（上海）有限公司

购置日期

2015-09-22

主要技术参数

仪器参数：分辨率: 高真空(二次电子3.0nm at 30kv，8.0nm at 3kv) (背散射电子3.5 nm at 30 keV) 低真空(低真空二次电子3.5 nm at 30 kV)；放大倍数: 2.5 ~1000000x；真空系统: 高真空<9*10 -3Pa；加速电压：0.2kV ~30Kv；电子束电流：1pA~2uA

主要功能及特色

具二次电子、背散射电子探头、X射线电子能谱探测器，可以同时进行显微组织形貌观察和微区成分分析。

仪器名称

热膨胀仪

规格型号

Linseis/L75VS1600

生产厂家

德国林赛斯

购置日期

2015-09-22

主要技术参数

仪器参数:分辨率：0.03nm;温度范围：RT-1550℃；加热速率：1-20K/min;施力大小：200nm-500nm;

主要功能及特色

可测定材料的热膨胀系数，可测试线性热膨胀，软化点，热分解温度，玻璃化转变温度等，广泛用于陶瓷、玻璃、合金等材料的测试与分析。

仪器名称

激光散射粒度分布分析仪

规格型号

LA-960

生产厂家

日本HORIBA公司

购置日期

2016-04-25

主要技术参数

仪器参数：量程: 1 μm-3000 μm (湿法最高3000 μm) ;光源：650 nm激光二极管 405 nm LED ;样品量：10mg - 5g;分散液：约180 - 250mL;超声系统：30w，20kHz 7档连续可调;循环/搅拌：15档连续可调

主要功能及特色

用于测固体样品的粒径分布

仪器名称

电感耦合等离子体发射光谱仪

规格型号

Optima 8000

生产厂家

珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司

购置日期

2016-04-25

主要技术参数

仪器参数：光谱范围：163nm～900nm；动态范围：106；精密度：1ppm混合多元素溶液，CV<0.5%；稳定性：1小时RSD<1%，4小时RSD<2%；分辨率：在200nm处，光谱分辨率优于0.007nm；频率：40.68MHz。功率：750W～1500W，1W增量连续可调。观测方式：水平和垂直

主要功能及特色

通过等离子体激发离子，并由光谱仪测试离子退激发的特征谱线，获得离子种类与浓度，对液体样品中主量、微量及痕量元素的定量分析。

仪器名称

同步热分析仪

规格型号

NETZSCH STA 449 F3 Jupiter

生产厂家

德国耐驰

购置日期

2017-03-29

主要技术参数

仪器参数：TG-DSC.温度范围：RT-1450℃;加热速率：0.1-50K/min;

主要功能及特色

可同时测定相同控温程序中样品的热效应和质量变化，广泛应用于塑料、橡胶、合成树脂、纤维、涂料、油脂、陶瓷、玻璃、水泥、耐火材料、金属及合金等材料的热稳定性研究。

仪器名称

铁电材料测试仪

规格型号

Radiant Precision LC II

生产厂家

Radiant Technologies

购置日期

2017-03-29

主要技术参数

电压范围：0~± 100V;测量频率：0.03Hz~5kHz；电荷测量解析度范围: 10fC~276uC;材料测量面积解析度范围1µm2 ~2.76cm2;在使用外部高压电源时测量电荷的大解析度为27.6mC。脉冲测试:50us~1s;0V上升到5V的快时间: 40us;大漏电流测试:12.5mA。疲劳测试;大疲劳测量频率: 20kHz;小脉冲宽度:50us。

主要功能及特色

广泛应用于各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、块体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。可实现电滞回线、疲劳性能、I-V特性和储能性能测试，获得饱和极化强度、剩余极化强度、击穿强度、疲劳特性、可回复储能密度等性能

仪器名称

振动样品磁强计

规格型号

VSM-175

生产厂家

长春市普磁电技术开发有限公司

购置日期

2018-12-10

主要技术参数

测量磁矩范围(磁极间距30mm时)：1*10-3emu—300emu(灵敏度：5×10-5emu);相对精度(量程30emu时)：优于±1%;重复性(量程30emu时)：优于±1%;稳定性(量程30emu时)：连续4小时工作优于1%;温度范围：室温到500摄氏度以及室温到液氮温区;磁场强度：0~±3.8T之间。

主要功能及特色

适用于各种磁性材料的磁滞回线、起始磁化曲线、退磁曲线及温度特性曲线、IRM和DCD曲线的测量，具有测量简单、快速和界面友好等特点。

仪器名称

磁控溅射镀膜仪

规格型号

VTC-600-2HD

生产厂家

深圳科晶

购置日期

2018-12-21

主要技术参数

电源电压：220V   50Hz;总功率：2KW;工作温度：室温-500℃，精度±1℃;靶枪数量：2个;靶枪冷却方式：水冷;靶材尺寸：Φ2″;厚度0.1-5mm（因靶材材质不同厚度有所不同）;直流溅射功率：500W;9、射频溅射功率：300W/500W;载样台：Φ140mm;载样台转速：1-20rpm内可调;保护气体：Ar、N2等惰性气体;进气气路：质量流量计控制2路进气，每个流量为100SCCM。

主要功能及特色

用于制作各种单层或多层薄膜，如铁电、导电，合金，半导体，陶瓷，介电，光学，氧化物和PTFE薄膜等。设备具有操作简单、镀膜面积大和附着力强、薄膜厚度易于控制等优点。

仪器名称

介电温谱仪

规格型号

DMS500

生产厂家

佰力博

购置日期

2020-08-27

主要技术参数

测量温度：RT~450℃/600℃;测量原理：平行板电容器原理;供电：220V±10%，50Hz;升温斜率：0-10°C/min（典型值3°C/min）;工作温度：5℃ 至 + 40 ℃;控温精度：±0.5℃;测试样品：φ＜20mm，d＜5mm的块体;存储温度：–40 ℃ 至 +65 ℃;测量频率：10Hz~1MHz;工作湿度：+40 ℃ 时，相对湿度最高达 95%（无冷凝）;测量精度：0.05%;

主要功能及特色

测量介电材料的介电常数、损耗、电容、阻抗等参数，及在不同温度和频率下的变化规律。

仪器名称

霍尔效应测试系统

规格型号

（CH-100）

生产厂家

北京翠海磁电

购置日期

2020-06-20

主要技术参数

测量温度区间:80K-500K;可测试材料:电阻范围:10m Ohms -6m Ohms;半导体材料:SiGe，SiC，InAs，InGaAs，InP，AlGaAs，HgCdTe和铁氢体材料等;低阻抗材料:石墨塘，金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料等;高阻抗材料:半绝缘的GaA5，GaN，CdTe等材料的P型与N型测试;电阻率范围：10-7~1012 Ohm*cm;载流子浓度范围：103~1023cm-3;迁移率范围：0.1~108cm2/volt*sec霍尔系数范围:10-5~1027cm-3/C;霍尔电压范围:luV-3V

主要功能及特色

用于分析测试块状或薄膜状半导体材料的电阻率和霍尔电压等参数，从而得到关于材料电导率、霍尔系数、载流子浓度和载流子迁移率等信息，广泛用于半导体材料的电学性能的研究。

仪器名称

阻抗分析仪

规格型号

keysight E4991B

生产厂家

美国是德keysight

购置日期

2017-03-29

主要技术参数

3 种频率选件：1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz，可升级;±0.65% 基本精度和 120 mΩ 至 52 kΩ 阻抗范围（10% 测量精度范围）;测量参数：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、|Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、Vdc1、Idc1;内置直流偏置;介电/磁性材料测量：|εr|、εr'、εr''、tanδ(ε)、|μr|、μr'、μr''、tanδ(μ);提供温度特征测量和可靠的晶圆上测量

主要功能及特色

用以分析温度和频率对不同组分陶瓷样品电学性质均匀性、稳定性以及绝缘性的影响。

仪器名称

电子万能试验机

规格型号

EUT4304

生产厂家

深圳三思

购置日期

2020-12-07

主要技术参数

试验机测量范围:0.4%~100%FS;试验力分辨率:最大试验力的1/300000，全程不分档，且全程分辨率不变;试验空间:下空间/双空间;横梁最大行程:1100mm;试验宽度:550mm;外形尺寸:1050×780×2250m;电源/功率:三相五线制/5kW;精度等级:0.5级

主要功能及特色

测试材料的拉伸、压缩、三点弯曲特性，最大拉力30 KN

仪器名称

紫外可见近红外光谱分析系统

规格型号

（PMS-2000）

生产厂家

远方

购置日期

2021-01-21

主要技术参数

 波长范围： 200nm～800nm; 波长准确度：0.2nm;波长重复性：0.1nm;光谱采样间隔：0.1nm，1nm，5nm可选；色温测量范围：1000K～100000K；系统光度线性：0.3%；光通量测量范围：0.01lm～1.9999×10E05lm(需适当的积分球配合）；杂散光：10E-08

主要功能及特色

紫外-可见-近红外光谱分析系统PMS-2000是远方的光谱功率测试仪器，可测试相对光谱功率分布，色品坐标，主波长，峰值波长，光谱纯度，色温，显色指数，半宽度，光通量（配积分球），辐射功率，红色比，色容差等参数，满足国际照明委员会CIE对光和颜色测量要求。这种多用途仪器特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体等发光器件的光学特性测量。

仪器名称

磁控溅射及多弧式镀膜机

规格型号

（KC-CK500）

生产厂家

沈阳科诚

购置日期

2021-01-21

主要技术参数

真空腔室:φ500×H430mm;真空系统:复合分子泵+直联旋片泵,气动真空阀门;真空极限:优于8.0×10-5Pa;抽速:从大气抽至6.0×10-3Pa≤15min;基片台:基片台尺寸：φ150mm; 基片加热与旋转:衬底加热：室温～300℃，自动测温，PID控温；基片旋转：0-50转/分钟;溅射靶规格:3英寸，四只;膜厚不均匀性:≤±5%

主要功能及特色

用于制作各种单层或多层薄膜

仪器名称

放电等离子烧结炉

规格型号

生产厂家

思维特电源

购置日期

2021-01-21

主要技术参数

研究型：脉冲峰值电流1000-3000A，压力1-5吨的小型SPS设备，极限真空度10-4Pa，烧结样品尺寸：Φ10～8mm。

主要功能及特色

金属、合金粉末的放电等离子烧结成型；功能陶瓷、金属陶瓷、金属间化合物、复合材料的等离子活化热压烧结制备；纳米晶体材料的研发与制备；梯度功能材料的制备

仪器名称

金相显微镜

规格型号

6XB

生产厂家

上海光学一厂

购置日期

2018-12-21

主要技术参数

转换器:内置五孔转换器;调焦机构：低手位粗微调同轴，粗动每转行程38 mm；微调精度2um，带松紧调节机构;载物台：尺寸160mm×255mm，行程:120mm×75mm; 金属载物台板，中心孔φ12mm; 照明系统：柯拉照明,带可变孔径光栏和中心可调视场光栏,12V50W卤素灯灯室,灯丝中心可调，焦距可调 ;适配镜：直径：43mm，内调焦距：0～3mm调焦后可锁紧.

主要功能及特色

用来放大微小物体的图像，一般应用于金属，复合材料、有机高分子材料、无机非金属材料等的微观组织等观测。本项目收费包括制样。

仪器名称

X射线粉末衍射仪

规格型号

(SmartLab)

生产厂家

Rigaku

购置日期

2021-01-22

主要技术参数

X 射线发生器功率为 3KW、新型 9KW 转靶;测角仪最小步进为 1/10000 度，精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）;小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS);多用途薄膜测试组件;微区测试组件、CBO-F 微区光学组件;In-Plane 测试组件;入射端 Ka1 光学组件;高速探测D/teX-Ultra（能量分辨率 20%以下）

主要功能及特色

高温实时研究材料的物相成、晶体结构和织构及应力分析、结构分析。

仪器名称

热导分析仪

规格型号

（LFA467 HyperFlash)

生产厂家

NETZSCH

购置日期

2021-01-23

主要技术参数

温度范围：-100°C ~ 500°C，单一炉体;非接触式测量，IR 检测器检测样品上表面升温过程;数据采集速率：高达 2MHz（包括半升温信号检测，及 pulse mapping 技术）;热扩散系数测量范围：0.01 mm²/s ~2000 mm²/s;导热系数测量范围：< 0.1 W/(mK) ~4000 W/(mK);样品尺寸：
- 直径 6 mm ~25.4 mm（包括方形样品）
- 厚度 0.01 mm ~ 6 mm（样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能）

主要功能及特色

测试 -100°C 到 500°C 的宽广温度范围内样品的导热系数等热物理性能

仪器名称

原子力显微镜

规格型号

（ MFP-3D Origin+)

生产厂家

Oxford

购置日期

2021-01-24

主要技术参数

最大可观测直径80nm, 厚度10mm的样品,扫描范围：XY方向不低于90um， Z方向不低于15um.

主要功能及特色

AFM测量对样品无特殊要求，不需要对样品进行特殊处理，仅在大气环境下就可测量固体表面、吸附体系等，得到三维表面粗造度等信息。

仪器名称

高温介电温谱测量系统

规格型号

（DMS10001PBA)

生产厂家

佰力博

购置日期

2021-01-25

主要技术参数

测量温度：室温~1000℃;控温精度：±1℃;测量频率：20Hz~30MHz（依据阻抗而定）; 测量精度：0.05%;升温斜率：0~10℃/min（典型值3℃/min）;测量环境：常温/高温/真空/气氛;测量夹具：单样品/四样品/块体/薄片夹具;可以实现常温、高温、真空、气氛条件下测量块体/薄片样品的介电性能；;可以测量阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D等物理量； 可以直接测量介电常数和损耗，阻抗谱Cole-Cole图，机电耦合系数Kp；

主要功能及特色

用于分析宽频、高温条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、电容C、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线。广泛用于材料的介电性能、温度弛豫、电弛豫的研究。

仪器名称

X射线粉末衍射仪

规格型号

Rigaku miniflex600

生产厂家

Rigaku

购置日期

2015-09-22

主要技术参数

仪器参数:功率：600W

探测器: 闪烁计数器（使用Kβ滤光片）狭缝系统: DS・SS = 1.25&deg;、 RS = 0.3 mm入射、接收索拉狭缝: 5&deg;入射高度限制狭缝 = 10 mm

测角范围2θ = 3~90&deg; 步长：0.02&deg;

主要功能及特色

用于材料的物相组成、晶体结构和织构及应力分析、结构分析。